半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試機(jī)，制冷加熱循環(huán)器

簡(jiǎn)要描述：半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試機(jī)，制冷加熱循環(huán)器的典型應(yīng)用：
適用于電子元器件的溫度控制需求。在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度（-45℃至+ 250℃）下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境測(cè)試模擬。

產(chǎn)品型號(hào)：TES-4525
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-01-05
訪問(wèn) 量：754

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詳情介紹

品牌	LNEYA/無(wú)錫冠亞	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,電子/電池,制藥/生物制藥

半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試機(jī)，制冷加熱循環(huán)器

主要用于半導(dǎo)體測(cè)試中的溫度測(cè)試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測(cè)試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問(wèn)題，超高溫冷卻技術(shù)可以直接從300℃冷卻。

元器件高低溫測(cè)試機(jī)，制冷加熱裝置廠家

半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試機(jī)，制冷加熱循環(huán)器

　　無(wú)錫冠亞芯片高低溫測(cè)試機(jī)是針對(duì)電子元器件行業(yè)測(cè)試所推出的，那么，這類芯片高低溫測(cè)試機(jī)適用于那些行業(yè)呢？

　　經(jīng)過(guò)無(wú)錫冠亞的努力，其開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的芯片高低溫測(cè)試機(jī)TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號(hào)可以用于中小規(guī)模數(shù)字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試，在微弱電流測(cè)試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，測(cè)試原理符合國(guó)標(biāo)及軍標(biāo)要求，功率參數(shù)采用300uS脈沖測(cè)試，并采用數(shù)據(jù)、圖形雙重顯示。