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微流體控溫裝置知多少?

 更新時(shí)間:2019-03-15 點(diǎn)擊量:1342

  微流體控溫裝置是芯片行業(yè)過程中比較重要的一個(gè)環(huán)節(jié),用戶使用無錫冠亞的微流體控溫裝置,需要對(duì)微流體控溫裝置了解清楚,才能更好的進(jìn)行芯片測(cè)試。

微流體控溫裝置

  微流體控溫裝置在生產(chǎn)制造過程中會(huì)引入各種故障,通常會(huì)引起功能的失效。這些故障通??梢曰谛酒O(shè)計(jì)時(shí)插入的Scan Chain,用ATPG(對(duì)于memorymbist方法,對(duì)于Flash按照vendor的測(cè)試方法設(shè)計(jì)bist)產(chǎn)生測(cè)試Pattern進(jìn)行篩選微流體控溫裝置,從而剔除有功能故障的芯片。

  除了功能故障之外,*工藝的芯片還會(huì)有時(shí)序故障。Delay test的目的是剔除有Timing related defect 的芯片(即時(shí)序不滿足要求的芯片)?;?/span>Scan-at-speed的策略使用Launch from capture Lanuch from shift的方法來實(shí)現(xiàn)at-speed測(cè)試。在設(shè)計(jì)層面需要在Scan模式下利用on-chip PLL提供at-speed模式需要的高速工作時(shí)鐘。

  微流體控溫裝置除了基于功能和時(shí)序的測(cè)試,還需要進(jìn)行基于電流、電壓的測(cè)試來篩選掉一些“頑固”的芯片。通過IDDQ測(cè)試,剔除靜態(tài)電流不符合規(guī)范的芯片,通過Very Low Voltage test可以更容易發(fā)現(xiàn)時(shí)序不滿足的芯片,通過Stress test(高壓高溫)加速芯片的壽命更容易剔除gate oxide 失效。

  無錫冠亞微流體控溫裝置是芯片測(cè)試行業(yè)中常用的測(cè)試設(shè)備,用戶長時(shí)間使用微流體控溫裝置之后,想必對(duì)微流體控溫裝置有了更深入的了解。(本文來源網(wǎng)絡(luò),如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系刪除,謝謝)

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